VURPILLOT François
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Statut : Professeur
Equipe : ERIS


Curriculum Vitae

Mes thématiques de recherche sont centrées autour du développement de la SAT, mais orientées suivant 3 axes majeurs.

  • La physique et la modélisation des émetteurs de champ,
  • L’instrumentation scientifique aux limites.
  • L’interaction pointe / onde électromagnétique

Physique de l’Emission de champ :

Le premier axe concerne les principes physiques fondamentaux régissant l’instrument (émission de champ), et leurs conséquences d’un point de vue métrologique. Mon sujet de thèse de doctorat portait sur l’étude de la fonction de transfert pointe – image de la sonde atomique tomographique. En particulier j’ai étudié les limites fondamentales de l’instrument en termes de résolution spatiale et j’ai étudié et développé des méthodes de correction des aberrations d’image introduite par les lois physiques mises en jeu au cours de l’analyse de l’échantillon.  Un des résultats saillants de mes travaux de thèse est le développement d’un outil de modélisation du processus de formation des images en sonde 3D. En 2001, dans le cadre d’un post-doctorat dans le département des matériaux de l’Université d’Oxford (UK, Marie Curie Fellowship), j’ai adapté mon modèle au cas particulier des matériaux multicouches aux propriétés de magnétorésistance géante de type CuFeCo (vannes de spin). Ainsi, depuis 20 ans j’ai apporté une contribution importante  grâce à mes travaux à l’amélioration des algorithmes de reconstruction et de traitement de données ainsi qu’à la compréhension des artefacts expérimentaux . J’ai d’ailleurs rédigé plusieurs articles de revue sur ce sujet et contribué récemment à plusieurs chapitres de livres.

J’ai contribué, depuis les premiers résultats tirés de ma thèse de doctorat, à faire le lien entre les aberrations d’images, fondamentales pour la métrologie de l’instrument, et les mécanismes physiques d’émission de particules de la surface d’un matériau sous champ électrique colossal, domaine encore peu exploré à l’interface entre la physique du solide, la physico-chimie des surfaces, et la physique atomique.

Cette thématique que je porte dans le département d’Instrumentation du GPM est un point fort du laboratoire  Je coordonne ainsi plusieurs projets de recherche exploratoire pour mieux comprendre les limites physiques dans l’analyse des matériaux en sonde atomique .

Instrumentation aux limites :

Concernant l’aspect instrumental, j’ai participé au développement des détecteurs de dernière génération de sonde atomique  je coordonne et travaille sur les développements instrumentaux autour de la sonde atomique. Ces développements sont en partie développés dans le cadre de contrats de collaboration avec la société CAMECA . Notons aussi mon implication dans la mise au point de nouvelles techniques innovantes parallèles à la SAT comme le FIM 3D  ou récemment le couplage SAT /mPL , et le couplage SAT/MET . J’ai de même développé de nombreuses méthodes originales de traitement de données pour l’instrument. Ces développements ont donnés lieu à des applications variées en sciences des matériaux par l’ouverture de l’instrument aux semi-conducteurs, aux matériaux fragiles, et aux diélectriques.

Physique de l’interaction pointe / onde EM :

L’aspect théorique de l’instrument est un axe essentiel de mes recherches. De nouveaux modèles physiques ont ainsi été développés pour comprendre les mécanismes physiques mis en jeu dans l’émission des atomes en sonde atomique, sous l’action ou non d’une impulsion d’excitation (laser fs ou électrique sub-ns). Cette compréhension est essentielle d’un point de vue fondamental. L’interaction de l’émetteur à effet de champ, objet sub-longueur d’onde avec une onde EM intense est un axe de recherche en plein développement car commun aux techniques a-SNOM (aperturless Scanning Near field optical Microscopy), optical tweeters, photoinduced STM, laser induced nano patterning ou laser induced Field emission microscopy).

Dans toutes ces techniques il est nécessaire de séparer l’influence des effets ultra rapides induits par le champ laser des phénomènes plus lents tels que les effets thermiques. De nouvelles méthodes de mesures pompe-sonde ont été développées dans ce but et permis d’évaluer les différentes contributions dans le cas des métaux et des semi-conducteurs. J’ai aussi mis au point des méthodes de mesure inédites qui permettent par exemple d’évaluer l’efficacité d’absorption de l’émetteur sous éclairement laser qui ont été utilisé récemment pour démontrer la métallisation des isolants sous l’effet du champ intense de surface. J’ai également mis au point les techniques expérimentales montrant la réduction de la résistivité des matériaux isolants sous l’effet du champ électrique et de l’éclairement laser, rendant possible l’analyse par sonde atomique sur ces échantillons. Une partie importante ces recherches se fait aussi dans le cadre de coopérations à l’échelle régionale avec le financement de projets d’envergure dans les Grand Réseaux de Recherche (GRR-EEM). J


Publications

  • Ouvrages individuels et collectifs :

Edition de livres :

    1. Atom Probe Tomography1st Edition / Put Theory Into Practice, Editors: W. Lefebvre F. Vurpillot X. Sauvage,  Hardcover ISBN: 9780128046470, Academic Press, Elsevier publication (2016) (416 pages)

Chapitres de livres:

    1. Imagerie 3D en mécanique des matériaux ; Traité MIM, série Matériaux, Auteurs : MAIRE E, BUFFIÈRE Jean-Yves, (chapitre I, D. Blavette et F. Vurpillot) (2014)
    2. Atom Probe Tomography: Principle and Applications, Frederic Danoix, François Vurpillot, Handbook of Nanoscopy, Volume 1&2 (2012), Wiley
    3. D. Blavette, F. Vurpillot, B. Deconihout, and A. Menand, Fabrication and Characterization in the micro-nano range, New trends for two and Three Dimensionnal Structures, Advanced Structured Materials vol. 10, 2011, Springer-Verlag

Revues Vulgarisation scientifique :

    1. B. Deconihout, F. Vurpillot, A. Menand et D. Blavette, Techniques de l’ingénieur, La sonde atomique tomographique laser,  dossier IN 83, 2008
    2. D. Blavette et F. Vurpillot, La sonde Atomique tomographique en Science des Matériaux, Spectra Analyse, Novembre 2011, n°282, pp 37-45
    3. D. Blavette, F. Vurpilllot, B. Deconihout, Sonde atomique tomographique, Techniques de l’ingénieur, Référence P900 (2013)

65 RICL, 27 RICL publiées suite à une conférence internationale (AICL), 13 actes de conférences publiés

Revues internationales à comité de lecture (RICL)

  1. Vurpillot f, bostel a, menand a, and blavette d., trajectories of field emitted ions in 3d atom-probe, (1999) European Physical Journal-Applied Physics Volume: 6 Issue: 2 Pages: 217-221
  2. Vurpillot F, Bostel A, Blavette D, The shape of field emitters and the ion trajectories in three-dimensional atom probes, (1999), Journal Of Microscopy-Oxford Volume: 196 Pages: 332-336 Part: 3
  3. Vurpillot F, Bostel A, Blavette D, Trajectory overlaps and local magnification in three-dimensional atom probe, (2000) Applied Physics Letters Volume: 76 Issue: 21 Pages: 3127-3129
  4. Vurpillot F, Bostel A, Cadel E, Blavette D., The spatial resolution of 3D atom probe in the investigation of single-phase material, (2000) Ultramicroscopy Volume: 84 Issue: 3-4 Pages: 213-224
  5. Vurpillot F, Da Costa G, Menand A, and Blavette D., Structural analyses in three-dimensional atom probe: a Fourier transform approach, (2001) Journal Of Microscopy-OXFORD Volume: 203 Pages: 295-302 Part: 3
  6. B. Deconihout, F. Vurpillot, M. Bouet, and L. Renaud, Improved ion detection efficiency of microchannel plate detectors, (2002) Rev. Sci. Instrum. 73, 173
  7. F. Vurpillot, A. Cerezo, D.Blavette and D.J. Larson Modelling Image Distortions In Three Dimentional Atom Probe, Microscopy and Microanalysis, Vol. 10, pages 384-390 (2004)
  8. F. Vurpillot, F. De Geuser, and D.Blavette Application of the Fourier transform and autocorrelation to cluster identification in 3DAP, (2004) Journal of Microscopy, Vol 216, Pt 3, pp 234-240
  9. Da Costa G., Vurpillot F., Bostel A., Bouet M., and Deconihout B., (2005) Design of a delay-line position-sensitive detector with improved performance, Rev. Sci. Instrum. 76, 013304
  10. Gault B., Vurpillot F., Menand A. and Deconihout B., Estimation of the tip field enhancement on a field emitter under laser illumination, (2005) Appl. Phys. Lett. 86, 094101
  11. Vurpillot F., Vella A., Gault B and Deconihout B., Measurement of the cooling times on a metallic tip irradiated by a laser field, (2006) Appl. Phys. Lett. 88, 094105
  12. Gault B., Vurpillot F., Vella A., Gilbert M., Menand A., Blavette D., and Deconihout B., Design of a femtosecond laser assisted tomographic atom probe, (2006) Rev. Sci. Instrum. 77, 043705
  13. Vella A., Vurpillot F., Gault B., Menand A., and Deconihout B., Evidence of field evaporation assisted by nonlinear optical rectification induced by ultrafast laser, (2006) Phys. Rev. B 73, 165416
  14. Vella, A, Gilbert, M, Hideur, A, F. Vurpillot and B. Deconihout, Ultrafast ion emission from metallic tip excited by femtosecond laser pulses, (2006) Appl. Phys. Lett. 89 , issue 25, 251903
  15. De Geuser F, Gault B, Bostel A, Vurpillot F., Correlated field evaporation as seen by atom probe tomography, (2007) Surface Science 601, 536
  16. Grenier A, Larde R, Cadel E, Vurpillot F, Juraszek J ,Teillet J , Tiercelin N,Atomic-scale study of TbCo2.5/Fe multilayers by laser-assisted tomographic atom probe , (2007), Journal Of Applied Physics 102, 033912
  17. Grenier, A., Larde R, Cadel E, Le Breton JM, Juraszek J, Vurpillot F, Tiercelin N, Pernod P, Teillet J , Structural investigation of TbCo2/Fe magnetostrictive thin films by tomographic atom probe and Mossbauer spectrometry, (2007) Journal Of Magnetism And Magnetic Materials 310, 2215
  18. Blavette D, Al Kassab T, Cadel E, Mackel, Vurpillot F., Gilbert M., Cojocaru, O. Deconihout B.. , Laser-assisted atom probe tomography and nanosciences, (2008) International Journal Of Materials Research Volume: 99 Issue: 5 Pages: 454-460
  19. Sauvage X, Jessner P, Vurpillot F, and Pippan R., Nanostructure and properties of a Cu-Cr composite processed by severe plastic deformation, (2008) Scripta Materialia Volume: 58 Issue: 12 Pages: 1125-1128
  20. Marquis EA, Vurpillot F, Chromatic aberrations in the analysis of small precipitates, (2008) Micros and microanalysis. , Volume: 14 Issue: 6 Pages: 561-570
  21. Vurpillot F., Houard J, Vella A, and Deconihout B., Thermal response of a field emitter subjected to ultra-fast laser illumination Source, (2009) J. Phys D-Appl. Phys. Volume: 42 Issue: 12 Pages: 125502
  22. Duguay S, Vurpillot F, Philippe T, Cadel, E, Larde, R, Deconihout, B, Servanton, G, and Pantel, R , Evidence of atomic-scale arsenic clustering in highly doped silicon, (2009) JAP Volume: 106 Issue: 10 Article Number: 106102
  23. Cadel E, Vurpillot F, Larde R, Duguay, S, and Deconihout B., Depth resolution function of the laser assisted tomographic atom probe in the investigation of semiconductors, (2009) JAP, Vol: 106, pages: 044908
  24. Larde R, Talbot E, Vurpillot F, Pareige, P, Schmerber, G, Beaurepaire, E, Dinia, A, Pierron-Bohnes, V ,(2009) Investigation at the atomic scale of the Co spatial distribution in Zn(Co)O magnetic sem54, iconductor oxide, JAP, Volume: 105 pages : 126107
  25. Houard J, Vella A, Vurpillot F, and Deconihout B., Conditions to cancel the laser polarization dependence of a subwavelength tip, (2009) APL, Volume: 94 pages: 121905
  26. Cojocaru-Miredin O, Cadel E, Vurpillot F, Mangelinck, D, and Blavette, D , Three-dimensional atomic-scale imaging of boron clusters in implanted silicon, (2009) Scripta Materialia Volume: 60 Pages: 285-288
  27. Philippe T., Gruber M., Vurpillot F., Blavette D., Clustering and local magnification effects in atom probe tomography: a statistical approach, (2010) Microsc. Microanal. 16, 643–648, 2010
  28. Houard J., Vella A., Vurpillot F., and Deconihout B., (2010) Optical near-field absorption at a metal tip far from plasmonic resonance, Phys. Rev. B 81, 125411
  29. Mazumder B., Vella A., Vurpillot F., Martel G., and Deconihout B., (2010) Surface carrier recombination of a silicon tip under high electric field, (2010) Appl. Phys. Lett. 97, 073104
  30. Lefebvre W., Philippe T., Vurpillot F., Application of Delaunay tessellation for the characterization of solute-rich clusters in atom probe tomography (2011), Ultramicroscopy, 111, pp 200-206
  31. Vurpillot F., Gruber M., Da Costa G., Martin I., Renaud L. and Bostel A., Pragmatic reconstruction methods in APT, (2011)Ultramicroscopy, Volume 111, Issue 8, , Pages 1286-1294
  32. Houard J., Vella A., Vurpillot F., and Deconihout B., Three-dimensional thermal response of a metal subwavelength tip under femtosecond laser illumination, (2011) Phys. Rev. B, Phys. Rev. B 84, 033405
  33. Gruber M., Vurpillot F., Bostel A., Deconihout B., Field evaporation: A kinetic Monte Carlo approach on the influence of temperature, Surface Science, Volume 605, Issues 23-24, (2011), Pages 2025-2031
  34. Bachhav M. N., Danoix R., Vurpillot F., Hannoyer B., Ogale S. B., Danoix F., Evidence of lateral heat transfer during laser assisted atom probe tomography analysis of large band gap materials, (2011) Appl. Phys. Lett. 99, 084101
  35. Danoix F., Epicier T., Vurpillot F., Blavette D., Atomic-scale imaging and analysis of single layer GP zones in a model steel, J. Mater Sci., DOI 10.1007/s10853-011-6008-4 (2011)
  36. Folcke E., Lardé R., Le Breton J.M., Gruber M., Vurpillot F., Shield J.E., Rui X., Patterson M.M., Laser-assisted atom probe tomography investigation of magnetic FePt nanoclusters: First experiments, (2012) Journal of Alloys and Compounds, Volume 517, 15, Pages 40-44
  37. Cazottes S., Vurpillot F., Fnidiki A., Lemarchand D., Baricco M., Danoix F.., Nanometer scale tomographic investigation of fine scale precipitates in a CuFeNi granular system by 3DFIM., Micros. Microanalysis , 18, 5, 1129-1134 (2012)
  38. Larson D.J, Gault B., Geiser B, P,, de Geuser F., Vurpillot F., Atom Probe Tomography Spatial Reconstruction: Status and Directions, Current Opinion in Solid State and Materials Science, Volume 17, Issue 5,, Pages 236-247 (2013)
  39. A. Grenier, S. Duguay, J.P. Barnes, R. Serra, G. Haberfehlner, D. Cooper, F. Bertin, S. Barraud, G. Audoit, L. Arnoldi, E. Cadel, A. Chabli, F. Vurpillot, 3D analysis of advanced nano-devices using electron and atom probe tomography, Ultramicroscopy, Volume 136, Pages 185-192 (2014)
  40. L Rigutti, I. Blum, D. Shinde, D. Hernández-Maldonado, W. Lefebvre, J. Houard, F. Vurpillot, A. Vella, M. Tchernycheva, C. Durand, J. Eymery, and B. Deconihout, Correlation of Microphotoluminescence Spectroscopy, Scanning Transmission Electron Microscopy, and Atom Probe Tomography on a Single Nano-object Containing an InGaN/GaN Multiquantum Well System, Nano Lett., 14 (1), pp 107–114, (2014)
  41. A Devaraj, R Colby, F Vurpillot, S Thevuthasan , Understanding Atom Probe Tomography of Oxide-Supported Metal Nanoparticles by Correlation with Atomic Resolution Electron Microscopy and Field Evaporation Simulation, J. Phys. Chem. Lett., 2014, 5 (8), pp 1361–1367
  42. L. Arnoldi, E. P. Silaeva, A. Gaillard, F. Vurpillot, I. Blum, L. Rigutti, B. Deconihout and A. Vella, Energy deficit of pulsed-laser field-ionized and field-emitted ions from non-metallic nano-tips, J. Appl. Phys. 115, 203705 (2014)
  43. L. Mancini, N. Amirifar, D. Shinde, I. Blum, M. Gilbert, A. Vella, F. Vurpillot, W. Lefebvre, R. Lardé, E. Talbot, P. Pareige, X. Portier, A. Ziani, C. Davesnne, C. Durand, J. Eymery, R. Butte, J.-F. Carlin, N. Grandjean, L. Rigutti, The Journal of Physical Chemistry C, J. Phys. Chem. C, (2014), 118 (41), pp 24136–24151
  44. B Ravelo, F Vurpillot, Analysis of Excitation Pulsed Signal Propagation for Atom Probe Tomography System, Progress In Electromagnetics Research Letters 47, 61-70, 2014
  45. R. Estivill, A. Grenier, S. Duguay, F. Vurpillot, T. Terlier, J.-P. Barnes, J.-M. Hartmann, D. Blavette, Quantitative investigation of SiGeC layers using atom probe tomography, Ultramicroscopy, Volume 150, March 2015, Pages 23–29
  46. L Mancini, Y Fontana, S Conesa-Boj, I Blum, F Vurpillot, L Francaviglia, E Russo-Averchi, M Heiss, J Arbiol, A Fontcuberta i Morral, L Rigutti, Three-dimensional nanoscale study of Al segregation and quantum dot formation in GaAs/AlGaAs core-shell nanowires, Appl. Phys. Lett. 105, 243106 (2014);
  47. N Sévelin-Radiguet, L Arnoldi, F Vurpillot, A Normand, B Deconihout, A. Vella, Ion energy spread in laser-assisted atom probe tomography, EPL (Europhysics Letters) 109 (3), 37009 (2015)
  48. R Estivill, A Grenier, S Duguay, F Vurpillot, T Terlier, JP Barnes, Blavette D. Quantitative investigation of SiGeC layers using atom probe tomography, Ultramicroscopy 150, 23-29 (2015)
  49. A Grenier, S Duguay, JP Barnes, R Serra, N Rolland, G Audoit, P Morin, F. Vurpillot, Three dimensional imaging and analysis of a single nano-device at the ultimate scale using correlative microscopy techniques, Applied Physics Letters 106 (21), 213102 (2015)
  50. L Zhao, A Normand, F Delaroche, B Ravelo, F Vurpillot, Pulse shaping optimization for improving atom probe tomography, International Journal of Mass Spectrometry 386, 47-53 (2015)
  51. B Mazumder, V Purohit, M Gruber, A Vella, F Vurpillot, B Deconihout, Challenges in the study of Fe/MgO/Fe interfaces using 3D Atom Probe, Thin Solid Films 589, 38-46 (2015)
  52. N Rolland, F Vurpillot, S Duguay, D Blavette, Dynamic evolution and fracture of multilayer field emitters in atom probe tomography: a new interpretation, The European Physical Journal Applied Physics 72 (2), 21001 (2015)
  53. M Gilbert, C Byl, D Berardan, A Gloter, N Dragoe, F Vurpillot, Nanoscale Microstructural and Chemical Analysis of SiO2–Zn1− xAlxO Nanocomposites: Towards a Better Understanding of Si and Al Substitution in ZnO, Journal of the American Ceramic Society 98 (12), 3948-3955 (2015)
  54. N Rolland, F Vurpillot, S Duguay, D Blavette, A Meshless Algorithm to Model Field Evaporation in Atom Probe Tomography, Microscopy and Microanalysis 21 (06), 1649-1656 (2015)
  55. F Vurpillot, W Lefebvre, JM Cairney, C Oberdorfer, BP Geiser, K Rajan, Advanced volume reconstruction and data mining methods in atom probe tomography, MRS Bulletin 41 (01), 46-52 (2016)
  56. L Mancini, D Hernández-Maldonado, W Lefebvre, J Houard, I Blum,F. Vurpillot, Multi-microscopy study of the influence of stacking faults and three-dimensional In distribution on the optical properties of m-plane InGaN quantum wells grown on microwire sidewalls, Applied Physics Letters 108 (4), 042102 (2016)
  57. L Rigutti, L Mancini, D Hernández-Maldonado, W Lefebvre, E Giraud, F. Vurpillot, Statistical correction of atom probe tomography data of semiconductor alloys combined with optical spectroscopy: The case of Al0. 25Ga0. 75N, Journal of Applied Physics 119 (10), 105704 (2016)
  58. Zhao L, Normand A, Houard J, Blum I, Delaroche F, Vurpillot F ,Nanoscale photoconductive switching effect applied to atom probe tomography, EPL (Europhysics Letters),116,2,27002,(2016)
  59. L Rigutti, L Mancini, W Lefebvre, J Houard, D Hernàndez-Maldonado, E Di Russo, E Giraud, R Butté, JF Carlin, N Grandjean, D Blavette, F Vurpillot, Statistical nanoscale study of localised radiative transitions in GaN/AlGaN quantum wells and AlGaN epitaxial layers, Semiconductor Science and Technology, 31, 095009 (2016)
  60. F Vurpillot, N Rolland, R Estivill, S Duguay, D Blavette Accuracy of analyses of microelectronics nanostructures in atom probe tomography,Semiconductor Science and Technology 31 (7), 74002-74007 (2016)
  61. I Blum, L Rigutti, F Vurpillot, A Vella, A Gaillard, B Deconihout, Dissociation Dynamics of Molecular Ions in High DC Electric Field, The Journal of Physical Chemistry A120 (20), pp 3654–3662, (2016)
  62. D Melkonyan, C Fleischmann, L Arnoldi, J Demeulemeester, A Kumar, J Bogdanowicz, F Vurpillot, W Vandervorst, Atom probe tomography analysis of SiGe fins embedded in SiO 2: Facts and artefacts, Ultramicroscopy, 179, pp100-107
  63. L Mancini, F Moyon, D Hernàndez-Maldonado, I Blum, J Houard, W. Lefebvre, F. Vurpillot, A. Das, E. Monroy, L. Rigutti, Carrier Localization in GaN/AlN Quantum Dots As Revealed by Three-Dimensional Multimicroscopy, Nano Letters 17 (7), 4261-4269 (2017)
  64. D Zanuttini, I Blum, L Rigutti, F Vurpillot, J Douady, E Jacquet, B. Gervais, Simulation of field-induced molecular dissociation in atom-probe tomography: Identification of a neutral emission channel, Physical Review A 95 (6), 061401 (2017)
  65. Atom probe tomography for advanced nanoelectronic devices: Current status and perspectives, panel J.P.Barnes A.Grenier I.Mouton S.Barraud G.Audoit J.Bogdanowicz C.Fleischmann D.Melkonyan W.Vandervorst S.Duguay N.Rolland F.Vurpillot D.Blavette, Scripta Materiala, viewpoint article, https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2017.05.012

Actes Revues internationales à comité de lecture suite à une conférence internationale (AICL)

  1. Vurpillot F, Bostel A, Blavette D, A new approach to the interpretation of atom probe field-ion microscopy images, (2001) Conference Information: 46th International Field Emission Symposium, JUL 23-28, 2000 PITTSBURGH, PENNSYLVANIA, Ultramicroscopy Volume: 89 Issue: 1-3 Pages: 137-144
  2. Blavette D, Vurpillot F, Pareige P, and Menand A., A model accounting for spatial overlaps in 3D atom-probe microscopy, ( 2001) Conference Information: 46th International Field Emission Symposium, JUL 23-28, 2000 PITTSBURGH, PENNSYLVANIA, Ultramicroscopy Volume: 89 Issue: 1-3 Pages: 145-153
  3. Vurpillot F., L. Renaud, D. Blavette (2003), A new step towards the lattice reconstruction in Three Dimensional Atom Probe, Proceedings Of The 47th International Field Emission Symposium, Berlin, Allemagne 2001, Ultramicroscopy, 95 , 223-229
  4. Vurpillot F., D.J. Larson, A. Cerezo, (2004) Improvement of Multilayers analyses with a Three Dimensional Atom Probe, Proceedings Of The 48th International Field Emission Symposium, Lyon, France 2002, Surface and Interface Analysis, Vol. 36, pp 552-558
  5. Vurpillot F., M. Gilbert, B. Deconihout, (2004) Towards the 3D FIM, Proceedings Of The 49th International Field Emission Symposium, Graz, Autriche, Surface and Interface Analysis, 39 (2007): 273-277
  6. De Geuser F, Lefebvre W, Danoix F, F. Vurpillot, D. Blavette, An improved reconstruction procedure for the correction of local magnification effects in three-dimensional atom-probe, (2007) Surface And Interface Analysis 39: 268-272
  7. B. Deconihout, F. Vurpillot, B. Gault, G. Da Costa, M. Bouet, A. Bostel, A. Hideur, G. Martel, M. Brunel And D. Blavette, (2004) Toward a laser assisted wide angle tomographic atom probe, (2007)Surface and Interface Analysis, 39: 278-282
  8. Gault B, Vella A, Vurpillot F, B. Deconihout, Optical and thermal processes involved in ultrafast laser pulse interaction with a field emitter , (2007), Ultramicroscopy 107 713-719
  9. Gilbert M, Vurpillot F, Vella A, B. Deconihout, Some aspects of the silicon behaviour under femtosecond pulsed laser field evaporation , (2007) Ultramicroscopy 107: 767-772
  10. Deconihout B, Vella A, Vurpillot F, Da Costa G. and Bostel A., 3D atom probe assisted by femtosecond laser pulses, (2008) Applied Physics A-Materials Science & Processing Volume: 93 Issue: 4 Pages: 995-1003
  11. Vella A, Houard J, Vurpillot F, and Deconihout B., Ultrafast emission of ions during laser ablation of metal for 3D atom probe (2009) Applied Surface Science Volume: 255 Pages: 5154-5158
  12. M. Bachhav, R. Danoix, F. Danoix, B. Hannoyer, S. Ogale, F. Vurpillot, Investigation of wüstite (Fe1−xO) by femtosecond laser assisted atom probe tomography, (2011) Ultramicroscopy, Volume 111, Issue 6, Pages 584-588
  13. Silaeva E. P., Shcheblanov N. S., Itina T. E., Vella A., Houard J., Sévelin-Radiguet N., Vurpillot F. and Deconihout B., Numerical study of femtosecond laser-assisted atom probe tomography, Applied Physics A: Materials Science & Processing, 1-5 (2012)
  14. Vurpillot F., Gault B., Geiser B. P., and Larson D.J., Reconstructing atom probe data: A review, Ultramicroscopy, Volume 132, September 2013, Pages 19–30 IFES 2012 (Publication invitee)
  15. Vurpillot F., Gaillard A., Da Costa G., Deconihout B., A model to predict image formation in Atom probe Tomography, Ultramicroscopy, Volume 132, September 2013, Pages 152-157
  16. Rigutti L, Vella A, Vurpillot F., Gaillard A., Sevelin-Radiguet N., Houard J., Hideur A., Martel G., Jacopin G., De Luna Bugallo A., Deconihout B., Coupling atom probe tomography and photoluminescence spectroscopy: Exploratory results and perspectives, Ultramicroscopy, Volume 132, September 2013, Pages 75–80
  17. F. Vurpillot and C. Oberdorfer, Ultramicroscopy, (Invitation) Modeling Atom Probe Tomography: A review; doi:10.1016/j.ultramic.2014.12.013
  18. L. Arnoldi, E.P. Silaeva, F. Vurpillot, B. Deconihout, E. Cadel, I. Blum, A. Vella, Role of the resistivity of insulating field emitters on the energy of field-ionised and field-evaporated atoms, Ultramicroscopy, 159,p 139
  19. N Rolland, DJ Larson, BP Geiser, S Duguay, F Vurpillot, D Blavette, An analytical model accounting for tip shape evolution during atom probe analysis of heterogeneous materials, Ultramicroscopy 159, 195-201(2015)
  20. R. Estivill, A. Grenier, S. Duguay, F. Vurpillot, T.Terlier, J-P. Barnes, J-M Hartmann, D. Blavette, Quantitative analysis of Si/SiGeC superlattices using atom probe tomography, Ultramicroscopy 159, 223-231(2015)
  21. W Lefebvre, D Hernandez-Maldonado, F Moyon, F Cuvilly, C Vaudolon,F. Vurpillot, HAADF–STEM atom counting in atom probe tomography specimens: Towards quantitative correlative microscopy, Ultramicroscopy 159, 403-412, (2015)
  22. L Zhao, A Delamare, A Normand, F Delaroche, O Latry, F Vurpillot, B. Ravelo RF Pulse Signal Integrity Analysis for Nonlinear Ended Microstrip Line Atom-Probe Tomography IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 120 (1), 012006 (2016)
  23. F. Vurpillot, F. Danoix, M. Gilbert, S.Koelling, M. Dagan, D.N. Seidman, True atomic-scale imaging in three-dimensions: A review of the rebirth of field-ion microscopy, (2017) Microscopy and Microanalysis 23 (2), 210-220 (2017)
  24. N Rolland, F Vurpillot, S Duguay, B Mazumder, JS Speck, D Blavette, New Atom Probe Tomography Reconstruction Algorithm for Multilayered Samples: Beyond the Hemispherical Constraint, Microscopy and Microanalysis 23 (2), 247-254 (2017)
  25. L Zhao, A Normand, J Houard, I Blum, F Delaroche, O Latry, B Ravelo, F. Vurpillot, Optimizing Atom Probe Analysis with Synchronous Laser Pulsing and Voltage Pulsing, Microscopy and Microanalysis 23 (2), 221-226, (2017)
  26. JM Hyde, G DaCosta, C Hatzoglou, H Weekes, B Radiguet, PD Styman, F. Vurpillot, C Pareige, A. Etienne, G. Bonny, N. Castin, L. Malerba, P. Pareige Analysis of Radiation Damage in Light Water Reactors: Comparison of Cluster Analysis Methods for the Analysis of Atom Probe Data, Microscopy and Microanalysis 23 (2), 366-375 (2017)
  27. B Ravelo, A Normand, L Zhao, F Vurpillot, Monte Carlo worst case analysis of atom probe tomography microelectrode, Conférence, Applied Computational Electromagnetics Society Symposium (ACES), 2017 International IEEE,Pages 1-2
  • Conférences, congrès et colloques à communication (Conférences internationales à comité de lecture et actes publiées) :

Actes publiés (ACT)

  1. F Vurpillot, E Mottay, A Courjaud, B Gault, A Bostel, A Menand And B Deconihout (2005) Ultrafast laser assisted field evaporation and Atom Probe Tomography applications , Canada, in proceedings of the COLA
  2. Vurpillot, F., Gruber M, Duguay S, Cadel E, and Deconihout B., Modeling artifacts in the analysis of test semiconductor structures in APT, Frontiers of Characterization and Metrology for nanoelectronics :, Pages 175-180 (2009)
  3. B Ravelo, F Vurpillot, AK Jastrzebski, Asymmetrical PCB interconnect tree modelling with coupling effect, Electromagnetic Compatibility (EMC Europe), 2014 International Symposium on, 1-4 Sept. 2014, 713 - 718
  4. L Zhao, A Delamare, A Normand, F Delaroche, O Latry, F Vurpillot, B. Ravelo, RF transient pulse signal integrity with ns-duration for atom-probe tomography, Radio and Antenna Days of the Indian Ocean (RADIO), 2015, 1-2
  5. Danoix F., Vurpillot F., Lefebvre W., Blavette D., 3D Atom Probe: Chemical Analysis With (Near) Atomic Resolution,Microscopy and Microanalysis,9,S02,568-569,(2003)
  6. Menand A, Deconihout B,Pareige P, Vurpillot F, Blavette D, The Tomographic atom probe: salient results and recent breakthroughs, Microscopy and Microanalysis,11,S02,96-97,(2005)
  7. Vurpillot F, Gilbert, M, Vella, A, Deconihout, B, Femtosecond Laser Atom Probe Tomography: Principles and Applications, Microscopy and Microanalysis,13,S02,1606-1607(2007)
  8. E Marquis, I Anderson, F Danoix, R Forbes, B Gault, T Kelly, M Miller, M Moody, F Vurpillot, Bringing Standardized Processes to Atom-Probe Tomography-Part 1: Establishing Standardized Terminology, Microscopy and Microanalysis 17 (S2), 858-859 (2011)
  9. Vurpillot F., Gaillard A., Arnoldi L., Vella A., Rigutti L., Tognetti V., Deconihout B., Atom Probe Tomography: Beyond the Microscope, a Breakthrough Backdoor for Chemical, Physical and Functional Characterization at the Nanometer Scale Microscopy and Microanalysis,19,S2,984-985,(2013)
  10. Vurpillot F., Lefebvre W., Rigutti, L., Rolland N., Moyon F., Mancini L., Hideur H., Blavette D.,Bridging the Gap between the Modeling Approach and the Experiment in Atom Probe Tomography, Microscopy and Microanalysis,21,3,37-38,(2015)
  11. BP Geiser, F Vurpillot, Y Chen, KP Rice, S Wright, DA Reinhard, ..., Recent Reconstruction Developments in IVAS, Microscopy and Microanalysis 23 (S1), 638-639 (2017)
  12. S Parviainen, M Dagan, S Katnagallu, B Gault, M Moody, F Vurpillot, Atomistic Simulations of Surface Effects Under High Electric Fields, Microscopy and Microanalysis 23 (S1), 644-645 (2017)
  13. F Vurpillot, D Zanuttini, S Parviainen, B Mazumder, N Rolland, C. Hatzoglou, J. Speck, Reconstructing APT Datasets: Challenging the Limits of the Possible, Microscopy and Microanalysis 23 (S1), 640-641 (2017)


Enseignements

  1. 1er / 2nd cycle

Professeur à l’IUT - Université de Rouen, j’exerce la majorité de mon service d’enseignement en DUT - « Mesures Physiques ». La couleur de mes enseignements est intimement liée à mon profil de recherche axé instrumentation et métrologie pour la science des matériaux.

Cours : DUT MP (Systèmes électriques / Atomistiques /Matériaux)  DUT Chimie Electromagnétisme DUT GC Plans expériences  / Master : implication dans les MASTERS RECHERCHE (Master EEOA - à CAEN, Master MANE ROUEN-CAEN, Master Diode-ROUEN, Master Matériaux à CAEN)