DHERBECOURT Pascal
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02.32.95.51.57

Statut : Maître de Conférences
Equipe : ERDEFI


Curriculum Vitae

Pascal Dherbécourt,

Maître de conférences Hors Classe

Section CNU 63 (Génie électrique, électronique, photonique et systèmes)

  • Adresse professionnelle :
  • Groupe de Physique des Matériaux - UMR CNRS 6634
  • Avenue de l’Université BP 76801 Saint Etienne du Rouvray Cedex
  • Tel : 02 32 95 51 57 - Email : pascal.dherbecourt@univ-rouen.fr

Université de Rouen - IUT – Département Génie Electrique et Informatique Industrielle

  • 76821 Mont Saint Aignan Cedex         Tel : 02 35 14 63 54

Septembre 2014 : Habilitation à Diriger des Recherches

Soutenue le 4 septembre 2014 au GPM Université de Rouen Normandie : « Performances et fiabilité des systèmes: Des télécommunications optiques aux composants électroniques de puissance »

Juin 2002 : Doctorat en physique à l’université de Rouen.

         Thèse soutenue le 21 juin 2002, portant sur « l’étude et réalisation d’un générateur d’onde   optique modulée en amplitude à très haute fréquence ». Application à la caractérisation spectrale des sources lasers et des photorécepteurs rapides type PIN pour les systèmes de télécommunications sur fibres optiques à très haut débit.

 

Distinction honorifique : Chevalier dans l’Ordre des Palmes Académiques promotion juillet 2009.

 


Publications

 

“Failure investigation of packaged SiC-diodes after thermal storage in extreme operating condition”

Olivier Latry,Pascal Dherbécourt, Patrick Denis, Fabien Cuvilly, Moncef Kadi

Journal: Engineering Failure Analysis, paru en septembre 2017.

https://doi.org/10.1016/j.engfailanal.2017.09.010

 

“Reliability and Failure Analysis of UHF RFID Passive Tags under Thermal Storage”

Sanae Taoufik, Pascal Dherbécourt, Ahmed El Oualkadi, Farid Temcamani

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Volume PP Issue 99, août 2017.

http://ieeexplore.ieee.org/document/7997768/authors?ctx=authors

 

“Short-circuit robustness test and in depth microstructural analysis study of SiC MOSFET”

S. Mbarek, P. Dherbécourt, Olivier Latry, François Fouquet

Microelectronic Reliability, Paru le 8 juillet 2017

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.07.002

 

 “Physical Schottky parameters extraction using the Lambert function in Ni/AlGaN/GaN HEMT devices with defined conduction phenomena”

Olivier Latry, Alexis Divay, Dalal Fadil, Pascal Dherbécourt

Journal of Semiconductors, Vol 38, N°1, janvier 2017.

DOI:10.1088/1674-4926/38/1/014007

 

 “Gate oxide degradation of SiC MOSFET under short-circuit aging tests”

S. Mbarek, F. Fouquet, P. Dherbecourt, M. Masmoudi, O. Latry

Microelectronic Reliability Journal, Vol 64, September 2016

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.132

 

Realization of a dedicated bench for reliability and robustness studies of high LDMOS power transistors

P.Dherbécourt, O.Latry, E.Joubert, K.Dehais-Mourgues, H.Maanane, JP.Sipma, P.Eudeline.

International Journal of microwave and optical technology, IJMOT, ISSN: 1553-0396, VOL.9, NO.6, Novembre 2014.

 

“Robustness of 4H-SiC 1200V Schottky diodes under high Electrostatic Discharge like Human Body Model stresses: a complete failure analysis”

P. Denis, P. Dherbécourt, O. Latry, M. Kadi, C. Genevois, F. Cuvilly and M. Brault.

Journal “Diamond and related materials”, Vol 44, p 62-70, april 2014

 

“Adding channels with PSBT Format at 40 Gbit/s in an existing 10 Gbit/s Optical Network”

F. Khecib, O. Latry, P. Dherbécourt, M. Kétata

Optics Communications, Volume 284, Issue 21, October 2011, Pages 5125-5129
 

 “Characterization and Modeling of Hot Carrier Injection in LDMOS for L-Band radar application”

L. Lachèze, O. Latry, P. Dherbécourt, K. Mourgues, V. Purohit, H.Maanane, J.P. Sipma, F. Cornu, P.Eudeline

Microelectonics Reliability, Volume 51, Issue 8, Aout 2011, pages 1289-1294,

 

 “A 5000 hours RF Life Test on 330 W RF-LDMOS transistors for radars applications

O. Latry, P. Dherbécourt, K. Mourgues, H. Maanane, J.P. Sipma, F. Cornu, P.Eudeline, M. Masmoudi,

“Microelectonics Reliability”, Volume 50, Issues 9-11, September 2010, pages 1574-1576.

 

Experimental considerations on bandwidth measurement of ultra-fast photoreceptors by optical heterodyning

O. Latry, G. Ducournau, P. Dherbécourt , E. Joubert and M.Kétata

Measurements”, volume 40, issue 4, pp. 406-417, May 2007.

 

 “Generation of an amplitude modulated optical wave up to 275 GHz by lasers waves mixing for optical components bandwidth measurement

Pascal Dherbécourt, Olivier Latry, Eric Joubert, Mohamed Ketata

Optical Engineering Letters, juillet 2002, Vol 41, N°7, pp 1469-1470

 

 “Achieving of an optical very high frequency modulated wave source using heterodyne technique”

Pascal Dherbécourt, Olivier Latry, Eric Joubert, Philippe Di Bin, Mohamed Kétata

Optics Communications, 1er Février 2002, Vol 202, pp 81-90.

 

 

“The development of specific training for partnership between the university and regional business”

 Mohamed Kétata; Pascal Dherbécourt, Delphine Lejeune

European Journal of Qualification, ISSN 2069-0290 N°4, July 2011, pages 28-31

 

“Partnership between higher education and the business world feedback at Rouen technology institute about the employability of young graduates”  

Mohamed Kétata; Pascal Dherbécourt, Isabelle Roux

European Journal of Qualification, ISSN 2069-0290 N°2, Mai 2011, pages 31-36

 

 

“ Mesure de la température interne des composants électroniques “

E. Joubert, O. Latry, P. Dherbécourt, M.Fontaine, C.Gautier, H. Polaert, P.Eudeline

« Les systèmes mécatroniques embarqués: analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation », tome 1

Ed ; ISTE (ISBN : 978-1-78405-057-3) Chap 7 pp. 167-186, Mars 2015.

 

“ Internal Temperature Measurement of Electronic Components“

E. Joubert, O. Latry, P. Dherbécourt, M.Fontaine, C.Gautier, H. Polaert, P.Eudeline

“Embeded Mechatronic systems 1 » Predictive reliability.

Elsevier (ISBN: 978-1-78548-013-3), pp. 164-184, 2015.

 

“ Workbench for aging microwave power transistors in operational conditions" P.Dherbécourt, O.Latry, K.Dehais-Mourgues, JB.Fonder, C.Duperrier, F.Temcamani, H.Maanane, JP. Sipma

“Les systèmes mécatroniques embarqués : analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation », tome 2

Ed ; ISTE (ISBN : 978-1-78405-059-7) Chap 2, pp. 45-70, Mars 2015.

 

 “Aging power transistors in operational conditions"

P.Dherbécourt, O.Latry, K.Dehais-Mourgues, JB.Fonder, C.Duperrier, F.Temcamani, H.Maanane, JP. Sipma

“Embeded Mechatronic systems 2 » Analysis of failures, modeling, simulation and optimization

Elsevier (ISBN: 978-1-78548-014-0), pp. 23-48, 2015.

 

Optical Fiber Components: Design and Applications"

G. Ducournau, O. Latry, P.Dherbécourt , E. Joubert , M. Kétata

Research SignPost Edition, Editor: H. Hamam, mai 2006. Page 51-84

 

 

 “Experimental study of the degradation mode of 600V GaN transistor in different energy under the short-circuit aging test”

J-Z.Fu, F. Fouquet, M. Kadi, P Dherbécourt

19th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference Maroc. IEEE MELECON 2018, 2-7 May, 2018, Marrakech, Maroc.

 

 “A New Extraction Method of SiC Power MOSFET Threshold Voltage using a Physical Approach”

Wadiâ Jouha, Ahmed El Oualkadi, Pascal Dherbécourt, Eric Joubert, Mohamed Masmoudi

3ème Conférence Internationale on “Electrical and Information Technologies” ICEIT’ 2017, 15-18 novembre 2017, Rabat Maroc.

 

 “Short-circuit robustness test and in depth microstructural analysis study of SiC MOSFET”

28st European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis,) 25-28 Septembre 2017, Bordeaux, France.

Safa Mbarek, Pascal Dherbecourt, François Fouquet, Olivier Latry

 

 “Behavior study of a 600V GaN transistor under short- circuit experimental test”

Jian Zhi. Fu, François Fouquet, Moncef Kadi, Pascal. Dherbécourt

TELECOM’2017 et 10e JFMMA, 10-12 mai 2017, Rabat, Maroc.

 

 “Gate oxide degradation of SiC MOSFET under short-circuit aging tests”

Esref 2016 (27st European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis,) 19-22 Septembre 2016, Händel-Halle, (Saale), Allemagne.

Safa Mbarek, François Fouquet, Pascal Dherbecourt, Mohamed Masmoudi, Olivier Latry

 

“Reliability and Failure Analysis of UHF-RFID Tags for Harsh Environments Applications”

S. Taoufik, A ElOualkadi, P. Dherbécourt, F. Temcamani, B. Delacressonniere

4 th Advanced Electromagnetics Symposium, 2-28 juillet 2016, Malaga, Espagne

 

Static Behavior Analysis of Silicon Carbide Power MOSFET for Temperature Variations

Wadiâ Jouha, Pascal Dherbécourt, Eric Joubert, Ahmed El Oualkadi

2nd International Conference on Electrical and Information Technologies ICEIT’2016, 4-7 mai 2016, Tanger, Maroc

 

 Physical Schottky parameters extraction using the Lambert function in AlGaN/GaN HEMT devices with defined conduction phenomena

Olivier Latry, A Divay, Dalal Fadil, Pascal Dherbécourt.

EMN Energy Material Nanotechnology, Beijing Meetings, 21-25 Avril 2016, Chine

 

 

Simulation and experimentation of an RFID system in the UHF band for the reliability of passive tags”

Sanae Taoufik, Ahmed El Oualkadi, Farid Temcamani, Bruno Delacressonniere, Pascal Dherbécourt

Congrès international MedICT2015 , 7-9 mai 2015, Saïdia Maroc

Proceedings Springer : Vol. 380, Ahmed El Oualkadi et al. (Eds): Proceedings of the Mediterranean Conference on Information & Communication Technologies 2015,

ISBN 978-3-319-30298-0

 

 “ Performances et fiabilité d’un système d’identification RFID en bande UHF“ .

S. Taoufik, A. El Oualkadi, P. Dherbécourt, B. Delacressonniere, F. Temcamani

TELECOM’2015 et 9ème JFMMA, 13-15 mai 2015, Meknès, Maroc

 

 “ Etude de la fiabilité des composants grand gap : Approche par les essais longue durée et l’analyse de défaillance “ .

O. Latry, P. Dherbécourt, E. Joubert, M. Masmoudi, K. Dehais-Mougues, J. Marcon, D. Fadil, A. Divay, S. Mbarek, N. Moutif, A. Echeverri

TELECOM’2015 et 9ème JFMMA, 13-15 mai 2015, Meknès, Maroc

 

 Etude de la Robustesse et des Mécanismes de défaillance d’un transistor MOSFET en SiC sous contraintes électriques et thermiques.

S. Mbarek, P. Dherbécourt, F. Fouquet, O. Latry

TELECOM’2015 et 9ème JFMMA, 13-15 mai 2015, Meknès, Maroc

 

 Simultaneous measurement of the temperature and the mechanical expansion of power electronics components

E. Joubert, O. Latry, P. Dherbécourt, J.P. Roux.

CENICS 2014 : 7th International Conference on Advances in Circuits, Electronics and Micro-electronics, Lisbonne, Portugal, 16-20 novembre 2014.

 

 “Robustness Study of SiC MOSFET Under Harsh Electrical and Thermal Constraints: To an in-depth physical failure analysis

S Mbarek, P.Dherbécourt, Olivier Latry, F Fouquet, Dhouha Othman, Mounira Berkani, Stéphane Lefebvre

CENICS 2014 : 7th International Conference on Advances in Circuits, Electronics and Micro-electronics, Lisbonne, Portugal, 16-20 novembre 2014

 

 “A workbench development for L-Band LDMOS amplifier reliability study”

P.Dherbécourt, O.Latry, E.Joubert, K.Dehais-Mourgues, H.Maanane, JP.Sipma, P.Eudeline.

IEEE Digital Library Journal (Xplore), 4th IEEE “International Conference on Multimedia Computing and Systems, Power Electronics, Superconducting”, Marrakech, Maroc, 14-16 april 2014.

Page(s): 1573 – 1578, ISBN: 978-1-4799-3823-0

DOI : 10.1109/ ICMCS.2014.6911246

 

 “Failure analysis of SiC schottky diodes 1200 V devices at highTemperature – Failure Mechanisms Investigations”

P.Denis, P.Dherbécourt, K.Daoud.

Congrès international Euromat 2012, Lausanne, Suisse, 23-27 juillet 2012

 

Reliability and Robustness studies of SiC diodes through LF noise and EM emission measurements

Patrick Denis, Guillaume Coru, Moncef Kadi, Pascal Dherbécourt, Kaouther Daoud.

Congrès International Iconic (International conference on electromagnetic near field characterization and imaging), IRSEEM Esigelec Rouen, du 30 novembre au 02 décembre 2011.

 

 Le développement d’actions spécifiques de formation pour un partenariat durable entre l’Université de Rouen-IUT et les entreprises régionales

Pascal Dherbécourt, Mohamed Kétata, Delphine Lejeune

Communication, congrès UNISO 2011 Université dans la société, Cnam Paris, du 06 au 10 juillet 2011.

 

 “A 5000 hours RF Life Test on 330 W RF-LDMOS transistors for radars application”

Esref (21st European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis,) Italie, Cassino, du 11 au 15 octobre 2010.

O. Latry, P. Dherbécourt, K. Mourgues, H. Maanane, J.P. Sipma, F. Cornu, P.

Eudeline, M. Masmoudi,

 

 “L’insertion professionnelle des jeunes diplômés de Licence Professionnelle facilitée par le partenariat entreprise : retour d’expérience à l’Université de Rouen”

Mohamed Kétata; Pascal Dherbécourt, Isabelle Roux

Communication, congrès UNISO 2010 Université dans la société, Timisoara, Roumanie du 07 au 11 juillet 2010.

 

 New approach for thermal investigation of a III-V power transistor

Maxime Fontaine, Eric Joubert, Olivier Latry, Pascal Dherbécourt, Mohamed Kétata

International Workshop on Thermal Investigation of IC’s and Systems, 24-26 septembre 2008, Rome, Italie.

ISBN 978-2-35500-008-9 pages 26-30

 

 "Upgraded Optical Transmission Link by mixing STM-16 and STM-64 with OOK and PSBT formats in WDM system

F. Khecib, O. Latry, P. Dherbécourt et M. Ketata

Systemics Cybernetics and informatics WMSCI In N. Callaos, editor, volume V, pages 263–268, IIIS ,WMSCI 2008.

Orlando Floride USA, du 29 juin au 2 juillet 2008.

 

 

La licence professionnelle EAS en alternance à l’IUT de Rouen: de la formation universitaire vers l’acquisition des compétences professionnelles

Pascal Dherbécourt , Mohamed Kétata

Communication, congrès UNISO 2008 7ème Université d’été, ACPART,

Iasi, Roumanie du 16 au 20 juillet 2008.

 

 “Simulation of Polarization Mode Dispersion compensation in high birefringent optical fibers at 40 Gbits/s”

D. Sy Aïdara, Pascal Dherbécourt, Olivier Latry, Mohamed Kétata

EOS International “Conference trends in optoelectronics” SPIE Europe, communication orale, pages 43–45, June 18-19 2007 Munich, Germany

 

"Semiconductor laser under modulation for application in Coherent Reflectometry"

O.Boukari, L.Hassine , O.Latry, P.Dherbecourt, H. Bouchriha, M.Ketata

EOS International “Conference trends in optoelectronics” SPIE Europe

communication orale, June 18-19 2007, pp 80–81, Munich, Germany

 

“Theoretical study of Semiconductor laser under modulation”

Olfa Boukari, , L.Hassine, Olivier Latry, Pascal Dherbécourt, Mohamed Kétata,

H. Bouchriha

ISC2007 2ème Conférence Internationale de Spectroscopie, 25-28 Mars 2007, American Institut of physics Conference Proceedings, Vol. 935, No. 1. (2007), pp. 72-79.

Sousse, Tunisie.

 

Exploitation de différentes techniques de mesure de PMD dans les composants optiques

D. Sy Aïdara, Mickaël Grisel, Pascal Dherbécourt, Olivier Latry, Mohamed Kétata

TELECOM’2005 & 4èmes JFMMA, Institut National des Postes et Télécommunications, 23,24 & 25 Mars 2005, Rabat, Maroc

 

 “Achieving an amplitude modulated optical wave up to 275 GHz for optical components test

Pascal Dherbécourt, Olivier Latry, Eric Joubert, Mohamed Kétata

Contribution orale, Congrès SPIE’s Photonics Fabrication Europe,

28 octobre - 1 novembre 2002, Brugge, Belgique.

Proceeding of SPIE, Vol 4943, pp 108-115, session 4, 30th october 2002.

ISBN 9780819447388 DOI :10.1117/12.468547

 

 Two lasers mixing for generation of a modulated optical wave up to 275 GHz

Pascal Dherbécourt, Olivier Latry, Eric Joubert, Mohamed Kétata

Contribution orale, 19ème Congress ICO (International Commission for Optics), 25-30 août 2002, Florence, Italie.

Technical Digest Part 1of 2, Proceeding of SPIE, Vol 4829

ISBN 9780819445964 DOI : 10.1117/12.524881.

 

 “Mixing of Two 1.55mm Laser Waves in Millimeter Frequency Range for Optical Components Test

Pascal Dherbécourt, Olivier Latry, Eric Joubert, Mohamed Kétata

Contribution orale, Congrès SPIE Photonics West, 19-25 january 2002, San Jose Californie U.S.A

Proceeding of SPIE, Vol 4648-08 pp 65-74

ISBN 9780819443878 DOI : 10.1117/12.462661

 

 


Enseignements

Affecté au Département  Geii de l'IUT de Rouen, chef de département Geii depuis septembre 2017, et  co responsable de la Licence Professionnelle Electronique Instrumentation Aéronautique et Spatial LPEIAS, formation pour laquelle j’ai été porteur du projet en 2005 et responsable pédagogique entre 2005 et 2017.

Les mots clés de mes enseignements sont les suivants : Electronique, électricité, télécommunications analogiques et numériques, hyperfréquences, théorie et traitement du signal, télécommunications par fibres optiques, conduite de projets, projets tutorés.

Encadrement de stages d’étudiants de DUT, de Licence Professionnelle, de Licence L3, de Master 2, suivi de Contrats de Professionnalisation, encadrements de projets tutorés.

Dans le cadre de la formation continue tout au long de la vie, j’interviens pour les techniciens et ingénieurs en entreprises. En 2014, j’ai pris en charge le montage de quatre formations courtes de 21 heures rattachées au programme de LP EIAS. Ces formations figurent au catalogue du centre de formation continue de l’université de Rouen, dans ce cadre, des collaborations sont effectives avec les sociétés Rohde & Schwarz, Lucent Technologies, le groupe Thales, pour la réalisation de formations en hyperfréquence à l’IUT de Rouen.

Je participe aux échanges d’étudiants Geii et LPEIAS en stage avec l’université de Moncton au Canada (suivis d’étudiants, visioconférences et déplacements) et avec l’école ENSA de Tanger. Je participe régulièrement au colloque des départements Geii (Gesi) ayant lieu chaque année dans un IUT français.

Je suis co-auteur de plusieurs articles pédagogiques parus dans la revue nationale GESI des départements Geii. Je communique par des articles et conférences régulièrement au Congrés National de la Recherche en IUT (CNRIUT) depuis 2001.