Actualités

Une première mondiale au Groupe de Physique des Matériaux

En 2024, une équipe du GPM est parvenue à unifier en un seul instrument deux techniques majeures de la microscopie haute résolution : la sonde atomique tomographique et la microscopie électronique en transmission. Ce succès, qui a fait l’objet d’une publication dans la revue Nature Communications, laisse envisager une meilleure convergence de ces techniques pour la description précise de la matière en trois dimensions à l’échelle atomique.

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APT School 2024

This school will provide a thorough background on the principles of the atom probe technique, from the theory of the field evaporation to data mining. Lectures will focus on the basics of APT with a special emphasis on up-to-date techniques (laser-pulsing, DLD detectors, FIB specimen preparation). Beside this lecture series, practicals are organized including specimen preparation, Field Ion Microscopy, APT analysis and data mining. 

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Séminaire 25/11 10h30 - Guillaume Hachet / Boron segregation in martensitic steels to improve the resistance against hydrogen embrittlement

Cher(e)s collègues, (english below)

Guillaume Hachet, nouveau chargé de recherche CNRS au laboratoire à partir de février 2025, nous rendra visite le lundi 25 novembre et fera une présentation à 10h30 en salle de séminaire, intitulée "Boron segregation in martensitic steels to improve the resistance against hydrogen embrittlement".

Vous trouverez un résumé de cette présentation à la fin de ce message,

cordialement,

Xavier
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Dear colleagues,

Séminaire 8/10 10h30 - Luc St-Pierre - Aalto, Finland - Fracture toughness of planar lattices: novel tessellations and hierarchical designs

GPM Seminar --  8 oct. 2024 - 10:30 AM - INSA Rouen - Room number to be defined

By Pr. Luc St-Pierre, University Aalto, Finland

Fracture toughness of planar lattices: novel tessellations and hierarchical designs

[Séminaire 25 juin 11h] Bringing Atom Probe Tomography to Transmission Electron Microscopes

Bonjour à tous,

En 2024, le GPM a réalisé une première mondiale en démontrant qu’il était possible d’implémenter une sonde atomique tomographique dans un microscope électronique en transmission commercial. Le 25 juin à 11h et en salle de conférence, Williams Lefebvre présentera un séminaire dans lequel il détaillera les différentes étapes de cette réalisation ainsi que les nouvelles possibilités qu’elle offre pour la caractérisation des matériaux. Le résumé de ce séminaire est disponible plus bas.