DRX

Diffraction de rayons X : MALVERN EMPYREAN

 

La diffraction des rayons X permet de mettre différentes applications en oeuvre :

  • Identification de phases, quantification

  • Affinement de structure cristallographique

  • Mesure de texture cristallographique

  • Détermination de contraintes résiduelles

  • Cartographie de l'espace réciproque

 

a

 

 

 

  •  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Tomographe à rayons X : EasyTom150 - RX Solutions

Cet équipement doté d’un générateur avec une tension d’accélération de 150kV permet de détecter et reconstruire en 3D des variations de densité (défauts, renforts, inclusions…) avec une résolution de 12 µm dans les matériaux métalliques et de 6 µm dans les matériaux composites à renfort fibreux.

 

tomoRX

 

Share icon