Défaillance Electronique et Fiabilité (ERDEFI)

Responsables : Olivier Latry

Membres de l’équipe : P. Dherbecourt, E. Joubert, M. Masmoudi, J. Marcon, K. Mourgues

Doctorants : N. Moultif, S. Taoufik, S. Mbarek, A. Echeverri, J.Z. Fu, W. Jouha

 

Les activités de recherche menées au laboratoire concernant les activités sur l’analyse de défaillance et la fiabilité sont récentes. Elles s’appuient le plus souvent sur des collaborations industrielles dans le cadre du pôle de compétitivité Mov’eo ou l’Institut Carnot ESP. Ces recherches sont le plus souvent appliquées aussi bien à destination de l’automobile ou de l’aérospatiale à travers l’étude de la fiabilité et de l’analyse de défaillance de composants électroniques.

Le GPM s’est engagé dans le développement de moyens d’analyse des phénomènes de dégradation et de défaillance des composants en microélectronique. Le laboratoire dispose aujourd’hui d’un parc instrumental comprenant :

  • Des bancs de caractérisations électrique statique et dynamique.
  • Des bancs de vieillissement thermique et en conditions opérationnelles de fonctionnement.
  • Des moyens d’ouverture des composants packagés (Sésame 1000 et Jet etching)
  • Des moyens d’investigation par la microscopie à émission (Phémos 1000)

Grâce aux équipements de pointe qui font le prestige du laboratoire (microscopies électroniques à transmission haute résolution ARM 200F Jeol , à balayage Nvision40 - Zeiss) la compréhension des phénomènes de dégradation ou de défaillance pourra davantage être poussée sur différentes technologies et compléter les mesures dans le domaine électrique.
Plusieurs actions ont été entreprises sur des bancs permettant le vieillissement de transistors de technologie différentes comme les Transistors Bipolaires à Hétérojonctions (TBH), les transistors LDMOS, les transistors VJFET à base de SiC ou les HEMT GaN dans le domaine radiofréquence.